ROHS direktifleri ile birlikte çeşitlenen kurşunsuz lehim alaşımlarınınilginç bir güvenilirlik problemi var. Kılcal uzama diye Türkçeye çevrilen tin whiskering probleminde, oluşan lehim bağı, alaşımın yüzey gerilimi, ortam sıcaklığı gibi etkenlerle kılcal bir tel şeklinde uzayarak, elektronik kartlarda yakındaki iletken yüzeylere değerek kısa devrelere yol açmakta. Bu problemin bazı uyduların düşmesine,Amerika’da bir nükleer reaktörde güvenliksorununa yol açarak reaktörün bir süreliğine kapatılmasına yol açtığı bilinmekte. Şuradan kılcal lehim uzaması problemlerine örnek fotolar bulabilirsiniz. Her yıl, milyarlarca adetlerde üretilen elektronik kartların hangisinde böyle bir probleme rastlayacağınız ise biraz da şansa kalmış.
